ಸೆಮಿಕಂಡಕ್ಟರ್ ಒತ್ತಡ ಸಂವೇದಕಗಳನ್ನು ಎರಡು ವರ್ಗಗಳಾಗಿ ವಿಂಗಡಿಸಬಹುದು, ಒಂದು ಅರೆವಾಹಕ PN ಜಂಕ್ಷನ್ (ಅಥವಾ ಸ್ಕೋಟ್ಕಿ ಜಂಕ್ಷನ್) ನ I-υ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳು ಒತ್ತಡದ ಅಡಿಯಲ್ಲಿ ಬದಲಾಗುತ್ತವೆ ಎಂಬ ತತ್ವವನ್ನು ಆಧರಿಸಿದೆ. ಈ ಒತ್ತಡದ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ಅಂಶದ ಕಾರ್ಯಕ್ಷಮತೆ ತುಂಬಾ ಅಸ್ಥಿರವಾಗಿದೆ ಮತ್ತು ಹೆಚ್ಚು ಅಭಿವೃದ್ಧಿಪಡಿಸಲಾಗಿಲ್ಲ. ಇನ್ನೊಂದು ಸೆಮಿಕಂಡಕ್ಟರ್ ಪೈಜೋರೆಸಿಟಿವ್ ಪರಿಣಾಮವನ್ನು ಆಧರಿಸಿದ ಸಂವೇದಕವಾಗಿದೆ, ಇದು ಅರೆವಾಹಕ ಒತ್ತಡ ಸಂವೇದಕದ ಮುಖ್ಯ ವಿಧವಾಗಿದೆ. ಆರಂಭಿಕ ದಿನಗಳಲ್ಲಿ, ಸೆಮಿಕಂಡಕ್ಟರ್ ಸ್ಟ್ರೈನ್ ಗೇಜ್‌ಗಳು ವಿವಿಧ ಒತ್ತಡ ಮತ್ತು ಒತ್ತಡವನ್ನು ಅಳೆಯುವ ಸಾಧನಗಳನ್ನು ತಯಾರಿಸಲು ಸ್ಥಿತಿಸ್ಥಾಪಕ ಅಂಶಗಳಿಗೆ ಹೆಚ್ಚಾಗಿ ಜೋಡಿಸಲ್ಪಟ್ಟಿವೆ. 1960 ರ ದಶಕದಲ್ಲಿ, ಸೆಮಿಕಂಡಕ್ಟರ್ ಇಂಟಿಗ್ರೇಟೆಡ್ ಸರ್ಕ್ಯೂಟ್ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನದ ಅಭಿವೃದ್ಧಿಯೊಂದಿಗೆ, ಪೈಜೋರೆಸಿಟಿವ್ ಅಂಶವಾಗಿ ಡಿಫ್ಯೂಷನ್ ರೆಸಿಸ್ಟರ್ನೊಂದಿಗೆ ಅರೆವಾಹಕ ಒತ್ತಡ ಸಂವೇದಕ ಕಾಣಿಸಿಕೊಂಡಿತು. ಈ ರೀತಿಯ ಒತ್ತಡ ಸಂವೇದಕವು ಸರಳ ಮತ್ತು ವಿಶ್ವಾಸಾರ್ಹ ರಚನೆಯನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ, ಯಾವುದೇ ಸಂಬಂಧಿತ ಚಲಿಸುವ ಭಾಗಗಳಿಲ್ಲ, ಮತ್ತು ಸಂವೇದಕದ ಒತ್ತಡದ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ಅಂಶ ಮತ್ತು ಸ್ಥಿತಿಸ್ಥಾಪಕ ಅಂಶವನ್ನು ಸಂಯೋಜಿಸಲಾಗಿದೆ, ಇದು ಯಾಂತ್ರಿಕ ವಿಳಂಬ ಮತ್ತು ಕ್ರೀಪ್ ಅನ್ನು ತಪ್ಪಿಸುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಸಂವೇದಕದ ಕಾರ್ಯಕ್ಷಮತೆಯನ್ನು ಸುಧಾರಿಸುತ್ತದೆ.

ಸೆಮಿಕಂಡಕ್ಟರ್‌ನ ಪೈಜೋರೆಸಿಟಿವ್ ಪರಿಣಾಮ ಸೆಮಿಕಂಡಕ್ಟರ್ ಬಾಹ್ಯ ಬಲಕ್ಕೆ ಸಂಬಂಧಿಸಿದ ಒಂದು ಗುಣಲಕ್ಷಣವನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ, ಅಂದರೆ, ಪ್ರತಿರೋಧಕತೆಯು (ಚಿಹ್ನೆ ρ ನಿಂದ ಪ್ರತಿನಿಧಿಸುತ್ತದೆ) ಅದು ಹೊಂದಿರುವ ಒತ್ತಡದೊಂದಿಗೆ ಬದಲಾಗುತ್ತದೆ, ಇದನ್ನು ಪೈಜೋರೆಸಿಟಿವ್ ಪರಿಣಾಮ ಎಂದು ಕರೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ. ಘಟಕ ಒತ್ತಡದ ಕ್ರಿಯೆಯ ಅಡಿಯಲ್ಲಿ ಪ್ರತಿರೋಧಕತೆಯ ಸಾಪೇಕ್ಷ ಬದಲಾವಣೆಯನ್ನು ಪೈಜೋರೆಸಿಟಿವ್ ಗುಣಾಂಕ ಎಂದು ಕರೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ, ಇದನ್ನು π ಚಿಹ್ನೆಯಿಂದ ವ್ಯಕ್ತಪಡಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ρ/ρ = π σ ಎಂದು ಗಣಿತೀಯವಾಗಿ ವ್ಯಕ್ತಪಡಿಸಲಾಗಿದೆ.

ಅಲ್ಲಿ σ ಒತ್ತಡವನ್ನು ಪ್ರತಿನಿಧಿಸುತ್ತದೆ. ಒತ್ತಡದ ಅಡಿಯಲ್ಲಿ ಸೆಮಿಕಂಡಕ್ಟರ್ ಪ್ರತಿರೋಧದಿಂದ ಉಂಟಾಗುವ ಪ್ರತಿರೋಧ ಮೌಲ್ಯದ (R/R) ಬದಲಾವಣೆಯು ಮುಖ್ಯವಾಗಿ ಪ್ರತಿರೋಧದ ಬದಲಾವಣೆಯಿಂದ ನಿರ್ಧರಿಸಲ್ಪಡುತ್ತದೆ, ಆದ್ದರಿಂದ ಪೈಜೋರೆಸಿಟಿವ್ ಪರಿಣಾಮದ ಅಭಿವ್ಯಕ್ತಿಯನ್ನು R/R=πσ ಎಂದು ಬರೆಯಬಹುದು.

ಬಾಹ್ಯ ಬಲದ ಕ್ರಿಯೆಯ ಅಡಿಯಲ್ಲಿ, ಸೆಮಿಕಂಡಕ್ಟರ್ ಸ್ಫಟಿಕಗಳಲ್ಲಿ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಒತ್ತಡ (σ) ಮತ್ತು ಸ್ಟ್ರೈನ್ (ε) ಉತ್ಪತ್ತಿಯಾಗುತ್ತದೆ, ಮತ್ತು ಅವುಗಳ ನಡುವಿನ ಸಂಬಂಧವನ್ನು ವಸ್ತುವಿನ ಯಂಗ್ ಮಾಡ್ಯುಲಸ್ (Y) ನಿರ್ಧರಿಸುತ್ತದೆ, ಅಂದರೆ, Y=σ/ε.

ಅರೆವಾಹಕದ ಮೇಲಿನ ಒತ್ತಡದಿಂದ ಪೈಜೋರೆಸಿಟಿವ್ ಪರಿಣಾಮವನ್ನು ವ್ಯಕ್ತಪಡಿಸಿದರೆ, ಅದು R/R=Gε.

G ಅನ್ನು ಒತ್ತಡ ಸಂವೇದಕದ ಸಂವೇದನಾ ಅಂಶ ಎಂದು ಕರೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ, ಇದು ಯುನಿಟ್ ಸ್ಟ್ರೈನ್ ಅಡಿಯಲ್ಲಿ ಪ್ರತಿರೋಧ ಮೌಲ್ಯದ ಸಾಪೇಕ್ಷ ಬದಲಾವಣೆಯನ್ನು ಪ್ರತಿನಿಧಿಸುತ್ತದೆ.

ಪೈಜೋರೆಸಿಟಿವ್ ಗುಣಾಂಕ ಅಥವಾ ಸೂಕ್ಷ್ಮತೆಯ ಅಂಶವು ಸೆಮಿಕಂಡಕ್ಟರ್ ಪೈಜೋರೆಸಿಟಿವ್ ಪರಿಣಾಮದ ಮೂಲಭೂತ ಭೌತಿಕ ನಿಯತಾಂಕವಾಗಿದೆ. ಒತ್ತಡ ಮತ್ತು ಒತ್ತಡದ ನಡುವಿನ ಸಂಬಂಧದಂತೆಯೇ ಅವುಗಳ ನಡುವಿನ ಸಂಬಂಧವನ್ನು ವಸ್ತುವಿನ ಯಂಗ್ ಮಾಡ್ಯುಲಸ್ ನಿರ್ಧರಿಸುತ್ತದೆ, ಅಂದರೆ, g = π y.

ಸ್ಥಿತಿಸ್ಥಾಪಕತ್ವದಲ್ಲಿ ಸೆಮಿಕಂಡಕ್ಟರ್ ಸ್ಫಟಿಕಗಳ ಅನಿಸೊಟ್ರೋಪಿಯಿಂದಾಗಿ, ಯಂಗ್‌ನ ಮಾಡ್ಯುಲಸ್ ಮತ್ತು ಪೈಜೋರೆಸಿಟಿವ್ ಗುಣಾಂಕವು ಸ್ಫಟಿಕ ದೃಷ್ಟಿಕೋನದೊಂದಿಗೆ ಬದಲಾಗುತ್ತದೆ. ಸೆಮಿಕಂಡಕ್ಟರ್ ಪೈಜೋರೆಸಿಟಿವ್ ಪರಿಣಾಮದ ಪ್ರಮಾಣವು ಅರೆವಾಹಕದ ಪ್ರತಿರೋಧಕತೆಗೆ ನಿಕಟ ಸಂಬಂಧ ಹೊಂದಿದೆ. ಪ್ರತಿರೋಧಕತೆಯು ಕಡಿಮೆಯಾದಷ್ಟೂ ಸೂಕ್ಷ್ಮತೆಯ ಅಂಶವು ಚಿಕ್ಕದಾಗಿರುತ್ತದೆ. ಪ್ರಸರಣ ಪ್ರತಿರೋಧದ ಪೈಜೋರೆಸಿಟಿವ್ ಪರಿಣಾಮವನ್ನು ಸ್ಫಟಿಕ ದೃಷ್ಟಿಕೋನ ಮತ್ತು ಪ್ರಸರಣ ಪ್ರತಿರೋಧದ ಅಶುದ್ಧತೆಯ ಸಾಂದ್ರತೆಯಿಂದ ನಿರ್ಧರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಅಶುದ್ಧತೆಯ ಸಾಂದ್ರತೆಯು ಮುಖ್ಯವಾಗಿ ಪ್ರಸರಣ ಪದರದ ಮೇಲ್ಮೈ ಅಶುದ್ಧತೆಯ ಸಾಂದ್ರತೆಯನ್ನು ಸೂಚಿಸುತ್ತದೆ.